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真空型X熒光光譜儀

簡要描述:EDX 8000H真空型X熒光光譜儀(yi)具有制樣簡(jian)單、分析(xi)速度快、分析(xi)含量范圍寬(kuan)、重現(xian)性好、準(zhun)確(que)度高(gao)等優點,隨著(zhu) X 射線(xian)熒光光譜分析(xi)技術的(de)不斷推廣(guang),利(li)用 X 射線(xian)熒光光譜儀(yi)分析(xi)儀(yi)檢測(ce)已成(cheng)為(wei)很(hen)多行業質量控制的(de)主要手段。

  • 產品型號:EDX 8000H
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2022-07-20
  • 訪  問  量: 679

詳細介紹

產地國產

EDX 8000H真空型X熒光光譜儀具有制樣簡單(dan)、分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)速度快、分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)含(han)量范(fan)圍寬、重現性好、準確度高等優點(dian),隨著(zhu) X 射線熒光(guang)光(guang)譜(pu)分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)技術的不斷推廣(guang),利(li)用 X 射線熒光(guang)光(guang)譜(pu)儀分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)儀檢測已成為很(hen)多行業質量控制的主要(yao)手段。


分析方法

有損分析光譜(pu)法(fa):AAS、ICP、AFS 在前處理方面(mian)跟化學滴定法(fa)相差(cha)不多(duo),都必須把樣品制成溶(rong)液,其對(dui)微(wei)量(liang)元素分析精(jing)度高,要(yao)求分析測(ce)試(shi)人(ren)員(yuan)素質高專業性強、測(ce)試(shi)時間短(duan)、人(ren)為誤差(cha)少等特點(dian)。用于實(shi)驗室環境條(tiao)件(jian)下。


EDX 8000H真空型X熒光光譜儀技術參數

元素分析范圍 : 鈉(Na)~ 鈾(U)

分析元素含量范圍 :PPM~99.99%(不同材質,分析范圍不同)

任意多個可選擇的分析和識別模型

相互獨立的基體效應校正模型

多變量非線性回歸程序

環境溫度 :15-30℃

同時分析元素 : 一次可同時分析幾十種元素

測試時間 :50-200s

電源 : 交流 220V±5v,建議配置交流凈化穩壓電源

能量分辨率 :129±5eV

樣品腔尺寸 :400*340*80mm

儀器尺寸:700*510*336mm

儀器重量:56kg

分析精度:0.05%(含量(liang)高于 96% 以上的精品,21 次測試穩定性)

高真(zhen)空系統、高分辨率(lv)SDD硅漂移數字多道型(xing)電制冷探測器


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